?用于調(diào)節(jié)太陽光模擬器的光量 標(biāo)準(zhǔn)太陽能電池
依據(jù)JIS進(jìn)行太陽能電池性能評(píng)估（ I-V測定）時(shí)，需預(yù)先調(diào)節(jié)測定使用的太陽光模擬器的光量，使得標(biāo)準(zhǔn)電池的短路電流變成校正后的數(shù)值。
?產(chǎn)品概要
是一種可經(jīng)日本產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所進(jìn)行二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)校正，封裝的a-Si（非晶硅）/μ-Si（微晶硅）用模擬標(biāo)準(zhǔn)太陽能電池。 （符合JIS C 8941：2009標(biāo)準(zhǔn)）
?測量各種不同樣品
光譜失配率降至1%以下
采用了日本的高級(jí)濾光片技術(shù)，大幅降低了原先很難實(shí)現(xiàn)的光譜匹配率。
即使在使用JIS C-8942中列為等級(jí)C的太陽光模擬器實(shí)施太陽能電池的性能評(píng)估時(shí)，非晶硅、微晶硅型均能夠?qū)⒄`差抑制在1%以下。
光譜失配計(jì)算軟件
我公司可提供搭載有AK-100/AK-110的相對分光靈敏度值的光譜失配計(jì)算軟件。
輸入當(dāng)前使用的太陽光模擬器的光譜數(shù)據(jù)以及將要測量的太陽能電池的相對分光靈敏度值后，只需點(diǎn)擊一下立即能夠計(jì)算出光譜失配誤差。
光譜失配計(jì)算軟件 下載（準(zhǔn)備中）
?可經(jīng)日本產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所進(jìn)行二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)校正
可經(jīng)獨(dú)立行政法人日本產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所進(jìn)行二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)太陽能電池校正。
無需制作一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)電池，從而縮短了期限，削減相關(guān)費(fèi)用。
將多重反射導(dǎo)致的誤差降至零
傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)太陽能電池由于標(biāo)準(zhǔn)電池本身會(huì)反射太陽光模擬器發(fā)出的照射光，因此，很容易產(chǎn)生測量誤差。本產(chǎn)品通過改進(jìn)光學(xué)系統(tǒng)，抑制了這種多重反射，成功將測量誤差控制為零。
入射角0度時(shí)，傳統(tǒng)產(chǎn)品的誤差為+1.3％，而本產(chǎn)品能夠達(dá)到0％。
?耐久性提升
在穩(wěn)定的晶硅系太陽能電池組件上安裝有獨(dú)創(chuàng)設(shè)計(jì)的濾光片，精度與穩(wěn)定性與傳統(tǒng)的模擬標(biāo)準(zhǔn)太陽能電池相比有較大幅度的提升。
即使在太陽光模擬器連續(xù)照射下，短路電流也很少發(fā)生改變。
?維持標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件25°C環(huán)境
主機(jī)內(nèi)置溫度測量傳感器「PT-100」，通過外部連接的溫控器平臺(tái)能夠輕松獲得并維持標(biāo)準(zhǔn)測試條件(STC)要求的25°C環(huán)境。
規(guī)格
| |
AK-100 |
AK-110 |
| 光譜失配誤差※1 |
±1%以內(nèi) |
±1%以內(nèi) |
| 短路電流(Isc) (25°±1°C)： |
40 mA以上 |
10 mA以上 |
| 受光區(qū)域 |
20 × 20 mm |
| 口徑區(qū)域 |
47 × 47 mm |
| FOV |
160° |
| FF |
60%以上 |
55%以上 |
| 溫度傳感器 |
PT-100 |
| I-V測量接口 |
XLR型圓柱形插頭（JIS標(biāo)準(zhǔn)） |
| 溫度測量接口 |
雷莫(LEMO)連接器（WPVS標(biāo)準(zhǔn)） |
| 工作溫度/濕度范圍 |
20～30°C，相對濕度65%以下 |
| 保管溫度/濕度范圍 |
15～30°C，相對濕度30～75%，不可結(jié)露 |
| 二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)電池校正 |
可由日本國立產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所(AIST)校正作為二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)電池。 |
| 尺寸（長）×（寬）×（高） |
120 × 90 × 21.5 mm |
| 重量 |
600 g |
| 標(biāo)準(zhǔn)配件 |
儲(chǔ)存箱PV-A01，M4螺釘（4枚），I-V測量接口（公）PV-A02，防護(hù)板PV-A03 |
- ※1
- 光譜失配誤差根據(jù)日本標(biāo)準(zhǔn)測試條件評(píng)估。
- 日本、日本標(biāo)識(shí)和符號(hào)以及"The essentials of imaging"均為日本控股株式會(huì)社的注冊商標(biāo)。
- 此處規(guī)格和外觀如有變動(dòng)，恕不另行通知。
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